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    熒光分析X射線管射線衍射對于研究外延層和其他薄膜材料具有特殊價值

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    熒光分析X射線管射線衍射對于研究外延層和其他薄膜材料具有特殊價值

    發布日期:2018-07-24 作者: 點擊:

      結構分析X射線管殘余應力主要是由材料及材料制品構件內部不均勻的塑性變形引起的,殘余應力嚴重影響構件的加工精度和尺寸穩定性、靜強度、疲勞強度和腐蝕開裂。在質量控制和預測產品壽命中殘余應力的檢測是尤為重要的。利用粉末X射線衍射數據解析材料晶體結構對各行各業都十分重要的,如:化學化工、材料科學、地質勘探、生物科技和制藥等。X射線衍射儀成為解析材料分子結構理想設備。高穩定性的X射線發生器控制系統,得到更穩定的重復測量精度,程序化操作、結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀同一平面內任意設定樣品測量點數,自動順序完成殘余應力測量;高分辨率SDD探測器,靶材固定時,可實現對各種材料殘余應力測量;同時配置Si漂移線陣探測器,快速完成殘余應力測量;X射線衍射是目前無損測量殘余應力的方法,X射線衍射儀和5維轉臺組合,為材料及材料制品的殘余應力測定提供可靠的檢測手段。

      熒光分析X射線管射線衍射對于研究外延層和其他薄膜材料具有特殊價值。采用精密的晶格參數的測量方法,可以很準確的確定晶格的外延層及其基底。在外延器件中晶格參數匹配或不匹配是一個重要因素如磁泡存儲器的磁性石榴石薄膜,LED用摻雜砷化鎵薄膜和高速晶體管和其他重要的電子產品。對于薄膜X射線衍射的另一個應用是使用高溫衍射通過測定晶格參數隨溫度的變化來確定熱膨脹系數。硬件系統和軟件系統的結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要,DX系列衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的,是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。利用粉末X射線衍射數據解析材料晶體結構對各行各業都十分重要的,如:化學化工、材料科學、地質勘探、生物科技和制藥等。X射線衍射儀成為解析材料分子結構理想設備。


    熒光分析X射線管

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