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    熒光分析X射線管管壓與電流的關系

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    熒光分析X射線管管壓與電流的關系

    發布日期:2019-04-04 作者: 點擊:

      熒光分析X射線管管壓和管電流的選擇原則與在波長色散光譜儀中的不同,所用管壓通常比待測元素的激發電位高3~5kev,而在波長色散光譜儀中要比激發電位大4~10倍,同時管電流一般均較小,它受能量色散光譜儀所允許的Z大計數率(5~30kcps)的限制?;诖?,視待分析元素對象不僅要設置不同的管壓和管電流,還要與濾光片結合起來考慮,其原則是保證所測元素獲得Z大強度。濾片的作用是消除可能提高背景或對某些元素產生迭譜干擾的特征譜線,從而提高對這些元素分析的靈敏度。濾波片采用K吸收緣介于元素的Kα和Kβ的波長之間的材料制成。


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      由于來自X光管的X射線不僅照射到分析樣品上,也會照射到樣品盒及樣品罩上。而產生來自樣品盒或罩上的不需要的熒光射線,從而影響分析精度,因此使用了光闌系統來保證只允許來自分析樣品的熒光X射線進入計數器。樣品進給器,是樣品進入真空系統的一個過渡。因為熒光X射線在空氣中會被衰減,所以樣品分析需要在真空環境下進行。這樣,試樣就需要從大氣狀態進入真空環境。 X射線管的實質是個真空二極管,其陰極是鎢絲,陽極為金屬片。在陰極兩端加上電流之后,鎢絲發熱,產生熱輻射電子。這些電子在高壓電場作用下被加速,轟擊陽極(又稱靶),產生X射線(此過程產生大量熱量,為了保護靶材,須確保循環水系統工作正常)。


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      來自樣品的熒光X射線和散射線都不是單一方向的,入射狹縫裝在樣品和分光晶體之間,它只允許指向分光晶體方向的熒光X射線通過,而吸收其它方向的射線,從而提高了光譜分辨率。如用Si-PIN探測器的譜儀,以Rh靶作為激發光源,分析水泥中鎂、鋁、硅、硫和鉀時,選擇4kv,0.6mA,其目的是使高含量鈣不被激發,而測鈣、鈦和鐵時,選擇13kv,0.lmA,并選用200pm鋁作濾光片,除去X射線管發射的RHL_線,以便降低鋁、硅等元素的X射線熒光強度,從而提高鈣和鐵等元素的X射線熒光強度。選擇二次靶和偏振光也是為了進行有選擇的激發,并降低背景。對于封閉式正比計數管為探測器的低分辨率光譜儀,管壓和管流選擇也是很重要的,如測定水泥原材料,用Cu靶,3盧um厚的Sn濾光片,測Si,A1,S時也用4kv,0.6mA,而測Ca和Fe時則用10kv,0.06mA.衍射儀是進行X射線分析的重要設備,主要由X射線發生器、測角儀、記錄儀和水冷卻系統組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數據處理系統。


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    關鍵詞:結構分析X射線管使用,X射線管安檢機,熒光分析X射線管管壓

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