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    X射線熒光分析是確定物質元素的方法

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    X射線熒光分析是確定物質元素的方法

    發布日期:2020-04-10 作者: 點擊:

    X射線熒光分析是確定物質中微量元素類型和含量的方法。 它也稱為X射線二次發射光譜法。 它使用初級X射線光子或其他微觀粒子來激發待測物質中的原子。生成用于材料成分分析和化學狀態研究的次級特征X射線。氮分析在金屬生產中變得越來越重要。 金屬制造商,加工商和鑄造行業需要用于氮分析的緊湊型入門級火花直讀光譜儀,因此它們是理想的分析設備。

    大多數鋼鐵產品要求將氮含量保持在低水平,以避免機械性能不一致,焊接鋼的熱影響區變脆,低溫成型性差,應變時效以及在鑄造過程中形成針孔。 該性能同類產品,是在低氮分析方面。對于寬濃度范圍的樣品,至少需要三個標準樣品。 熒光分析X射線管在X射線熒光光譜法中測量痕量元素時,如果可以準確扣除背景,也可以強制通過零點以獲得更準確的結果。使用二次曲線需要更多的標準樣品,并且可能很危險,因此建議盡量減少使用。


    熒光分析X射線管

    當使用X射線熒光光譜法時,我們通常希望曲線的斜率更陡,因此,當濃度變化很小時,分析線強度會發生很大變化。三邊敞開式火花桌可測量幾乎任何大小的樣品,從大型半成品到小型金屬絲。與同類系統相比火花臺中的新型氬氣流量管理系統可以減少并延長火花臺的清潔間隔。 此外基于實時波長校準和快速連接,儀器的重啟高效。這些功能了儀器的大可用性。從原子物理學的知識中,我們知道化學元素的每個原子都有其特定的能級結構,并且其核外電子以自己的能量在自己的固定軌道上運行。

    內部電子在具有能量的X射線照射下,原子從原子中釋放出來,成為自由電子。我們說原子是受激的并且處于受激狀態。 此時,其他外部電子將填充此空位,稱為過渡。能量以X射線的形式發射。由于每個元素的碼能級結構是特定的,因此在躍遷后被激發時發出的X射線的能量也是特定的,稱為特征X射線。 通過測量特征X射線的能量,可以確定相應元素的存在,特征X射線的強度(或X射線光子數)表示元素的含量。

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