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    X射線熒光光譜分析

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    X射線熒光光譜分析

    發布日期:2020-03-27 作者: 點擊:

    X射線熒光光譜與樣品的化學鍵合狀態無關,與固體,粉末,液體,晶體,無定形和其他物質的狀態無關。但是,在高分辨率精度測量中,可以看到波長變化和其他現象。在超柔和的X射線范圍內,這種效果更為明顯。波長的變化用于確定化學勢。 無損分析。測量過程中,化學狀態不會改變,樣品也不會擴散??梢灾貜蜏y量同一樣品,重復性好。

    X射線熒光分析是一種物理分析方法,因此也可以分析化學性質屬于同一組的元素。分析精度高。樣品制備簡單,可以分析固體,粉末和液體樣品。礦石分析儀主要用于分析地質礦石樣品的化學成分。充分利用Android操作系統和手機的強大共享功能,包括實時數據導出WiFi,藍牙和GPS功能來共享和使用數據。 啟動X或Z時,需選擇要運行的程序。

    熒光分析X射線管儀器中的每個應用程序都是根據您的應用程序預先配置和優化的。在操作的后期,人員也可以根據用戶的分析要求,使用我們的桌面建模軟件進行二次開發或定制分析方法。你需要什么?現場X射線熒光光譜儀(XRF)是一項可以快速準確地提供地質樣品地球化學分析結果的技術。XRF分析儀是現場元素分析,金相關元素分析,過渡金屬和重金屬元素不可少的設備。


    熒光分析X射線管

    但是隨著經濟礦藏的發現越來越困難,勘探技術也在不斷發展。 LIBS技術為XRF儀器分析結果提供了重要的地球化學信息,聰明的地質學家可以使用它來做出更好的決策。合金分析儀Z-200 C是世界上可以分析碳鋼和不銹鋼的碳含量的手持式分析儀。Z-200 C使用激光誘導擊穿光譜法(HH-LIBS),使用波長為1064納米,頻率為50HZ的脈沖激光,每個脈沖激光的功率為5.5毫焦耳。內置光譜儀,分析光譜范圍:190nm-620nm。 使用內置氬氣。 低可檢測到0.015%C。

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