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    熒光分析曲線斜率的大小與射線管的關系

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    熒光分析曲線斜率的大小與射線管的關系

    發布日期:2019-04-01 作者: 點擊:

      熒光分析曲線斜率的大小與基體的質量吸收系數有關,也就是說,質量吸收系數越大,斜率越小。同時斜率與特征譜線的波長有關。小于10nm的短波范圍內,斜率居中大于30nm的長波范圍內,斜率低在上述兩者之間時斜率低,背景也低,因此分析方法靈敏。若校正曲線通過零點,原則上只要一個標準樣便可確定校正曲線。

      對于濃度范圍很大的試樣,則至少需要三個以上的標準樣品。熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測定痕量元素時,若背景能準確扣除,也可強制通過零點,以便獲得更準確的結果。其數學表達式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距,D的單位是濃度,E的倒數是方法的靈敏度C,是待測元素i的濃度i,是待測元素的強度,校正曲線以直線表示為好,也可用二次曲線,只是用二次曲線需要較多的標樣,且可能存在危險,故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時,我們通常希望曲線的斜率陡一些,這樣在濃度變化很小時,分析線強度變化很大。

    X射線管


      X射線檢測可以顯示缺陷的形狀、平面位置、性質和大小,底片可以長期保留。對于如氣孔、夾渣、縮孔等體積性缺陷,在X射線透照方向有較明顯的厚度差,即使很小的缺陷也較容易檢查出來。而對于如裂紋那樣的面狀缺陷,只有與裂紋方向平行的X射線照射時,才能夠檢查出來,而同裂紋面幾乎垂直的射線照射時,就很難查出。這是因為在照射方向幾乎沒有厚度差的緣故。使用X射線檢測內部缺陷是一種常用的無損檢測方法,它在鍋爐、壓力容器、船體、管道和其它結構的焊縫和鑄件方面應用得十分廣泛。

      使用結構分析X射線管,發射出的射線與檢測物體平行檢測時,同平行面上的裂紋,氣孔都會有較明顯的成像變化。X射線熒光光譜校正曲線法要求標準樣和樣品的物理化學形態、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下,分折線強度并不隨著其濃度的增加而增加,需對基體進行校正后,方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結果,以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標,I為縱坐標?,F在則通過計算機用二乘法進行計算,X射線熒光光譜曲線上各數據點與曲線上相對應的數據偏差的平方和小。

    結構分析X射線管

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    關鍵詞:熒光分析X射線管使用,X射線管安檢機,X射線管注意事項

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